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上海赢朔获得一项专利完结 QFN 芯片的高温测验削减操作工序进步出产功率

文章来源:鼎博电竞 发布时间:2024-11-27 21:39:46

  

上海赢朔获得一项专利完结 QFN 芯片的高温测验削减操作工序进步出产功率

  金融界 2024 年 9 月 8 日音讯,天眼查知识产权信息数据显现,上海赢朔电子科技股份有限公司获得一项名为“一种 QFN 芯片高温测验主动收支料组织“,授权公告号 CN111900100B,请求日期为 2020 年 9 月。

  专利摘要显现,本发明公开了一种 QFN 芯片高温测验主动收支料组织,包含底座以及设置在底座上的进口加热轨迹、进口资料搬运组织、定位组织、芯片搬运组织、高温测验组织、不良品排出组织和出料轨迹,芯片搬运组织包含单轴驱动器、单轴驱动器马达、纵向滑轨、下压马达固定板、两个搬运支架和四个下压马达;出料轨迹和进口加热轨迹分设在纵向滑轨的左右侧;进口资料搬运组织设置在进口加热轨迹的结尾;定位组织与所述进口资料搬运组织相邻设置;不良品排出组织和高温测验组织一一对应地设置在纵向滑轨的前后端。本发明的 QFN 芯片高温测验主动收支料组织,可以完成 QFN 芯片的高温测验,操作简略快捷,削减操作工序,进步了出产功率。

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